Farò tracciamenti e analisi di xrd, raman, ftir, uv, SEM, tem e gcd

Ciao, sono un ricercatore professionista con vasta conoscenza e comprensione di scienza dei materiali e nanotecnologia. La mia specialità è condurre progetti di ricerca che coinvolgono analisi dei dati (XRD, SEM, EDX, RAMAN, FTIR, UV, CV, GCD), plotting usando diversi software e scrittura creativa dei risultati. Ho più di quattro anni di esperienza nel mio campo.

Sono competente nell'uso di software come Origin, Expert High Score, Inkscape e Image J per il plotting dei dati, la determinazione di dimensioni di cristalliti, dimensioni dei grani, cristallinità e fusione di grafici.

Ti aiuterò anche a determinare la dimensione di grani/particelle/cristalliti dalle immagini SEM usando ImageJ Software.

Ti forniremo i seguenti servizi etici:

1. Qualità del lavoro.

2. La soddisfazione del cliente è la mia priorità

3. Un budget deciso di comune accordo.

Spero che tu possa considerarmi la persona più adatta alle tue esigenze.